日前，《传感器与微系统》期刊成功入选英国Inspec数据库，并荣获2025年“中国科技核心期刊”收录证书。

Inspec是全球顶尖科技文献数据库，此次入选是对《传感器与微系统》期刊学术质量、编辑水平和影响力的高度肯定，进一步提升了期刊国际影响力与学术认可度，更为全球读者获取前沿成果提供便利。

“中国科技核心期刊”是国内重要的科技期刊评价体系，在科技界有较高认可度和影响力。《传感器与微系统》获此证书，进一步提升了期刊知名度与权威性，有利于吸引更多优质稿源和读者，持续增强在传感器与微系统领域的话语权。